SMART MODULAR TECHNOLOGIES MEMPERKENALKAN PEMACU MEMORI KILAT DENGAN MITIGASI SEU UNTUK APLIKASI DARI JAUH

NEWARK, Calif., 19 Sept (Bernama) -- SMART Modular Technologies, Inc. (“SMART”), bahagian SGH (Nasdaq: SGH) dan peneraju global dalam penyelesaian memori, pemacu keadaan pepejal dan memori lanjutan, mengumumkan teknologi proprietari untuk mengurangkan kesan buruk gangguan peristiwa tunggal (SEU) dalam sistem berasaskan memori kilat keandalan tinggi. Produk SSD MP3000 NVMe SMART Modular dengan mitigasi SEU mengurangkan kadar kegagalan tahunan daripada setinggi 17.5k/Mu (juta unit) kepada kurang daripada 10/Mu dan boleh menjimatkan ratusan ribu dolar dalam kos perkhidmatan yang berpotensi dengan membantu memastikan ratusan jam masa beroperasi tanpa gangguan, terutamanya penting untuk penggunaan dari jauh yang sukar dibaiki.

"Pemacu but SATA dan PCIe NVMe standard industri kami boleh mengurangkan kadar kegagalan tahunan sebanyak 99.7% dengan pemulihan daripada ralat lembut akibat gangguan peristiwa tunggal," kata Satya Iyer, naib presiden memori khusus SMART. "Dalam aplikasi perangkaian dan telekom di lokasi jauh dan sukar untuk perkhidmatan, mitigasi SEU dan keupayaan untuk pulih daripada ralat lembut boleh membuat perbezaan bagi sistem yang memerlukan masa beroperasi 24/7.”